NanoMap-500LS是一款双扫描功能的探针表面轮廓仪。其拥有探针 高速扫描和大范围样品扫描两种功能。用以测量样品表面：三维 形段（3D Image）、粗糙度（Roughness,Ra,Sa）、台阶高度（Step Height）膜层厚度（Film Fhickness）、应力曲线（Stress Cruve）.
探针/样品 双扫描
衔接AFM与三坐标的三维形段测量尺度
压电陶瓷驱动扫描，高速、精准
AFM同款光电位移传感口
150*150nm正方形kg纳米参考平晶
材料科学、薄膜涂层
生物、化工
石油、微电子、卫星传感器、
半导体材料、自动控制、
航空航天、汽车工业、机械工具
探针接触力: 0.03-100mg
纵向分辨率: 0.1nm (5um档）
横向最大扫描长度: 100mm
X Y 样品区域 : 直径150mm,200mm，
300mm，450mm, 650mm可选
X Y 平台运动范围: 150mmX150mm,
300x300mm, 650x700mm 可选
触针针尖半径: 0.1～0.8μm（定制）2μm、
5μm、12.5μm、25μm（可选）
北京市海淀区车道沟南里34
010-68187909
江苏省 无锡市兴源北路
401号北创科技园833室
0510-82325663
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